化学机械抛光方案

化学机械抛光(CMP)是实现晶圆全局平坦化的关键工艺,指的是通过化学腐蚀与机械研磨的协同配合作用,实现晶圆表面多余材料的高效去除与全局纳米级平坦化,是先进集成电路制造前道工序、先进封装等环节必需的关键制程工艺。


方案配置:

CDHD 30A HV(400V) + BDHDE Bundle方案


方案特点:

大功率,高精度,高稳定性,速度平稳,无波动,匹配性良好,支持第三方电机

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